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台式X荧光光谱仪检测分析时采用的定律分析

台式X荧光光谱仪之所以能够对生活中不同元素形成的各式各样的导体及非导体材料进行分析,是因为它的强大功能,那么你知道X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律呢?

X荧光光谱仪在检测分析时采用了以下定律:

莫塞莱定律:该定律反映了X射线荧光的波长与元素原子序数之间的关系。根据这一定律,只要测出一系列X射线荧光谱线的波长,在排除了其他谱线的干扰以后即可确定元素的种类。

布拉格定律:这一定律是波长色散型X荧光光谱仪所使用的分光原理,在进行材料检测分析的时候能够让不同元素不同波长的特征X荧光完全分开,使谱线处理工作变得非常简单,降低仪器检出限。

比尔-朗伯定律:该定律是反应样品吸收状况的定律,涉及到理论X射线荧光相对强度的计算问题。X荧光光谱仪采用这一定律进行检测分析时,样品可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要将混合的X射线按波长分开,分别测量不同波长的X射线强度,以进行定性和定量分析。

这些定律在X荧光光谱仪的检测分析中发挥着重要的作用。

创想仪器X荧光光谱仪


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